Kristályelemzés röntgensugár-méréssel (XRD) - PDF ingyenes letöltés

Kristályelemzés röntgendirektometria (XRD) alkalmazásával Susanne Schreier, 2016. április 14. 1 Motiváció Annak érdekében, hogy a kristályokat roncsolásmentesen megvizsgálhassuk, röntgendirektometriát (X-Ray Diraction XRD) használunk. Többek között információt nyújt a sokk fázisáról, a kristály szerkezetéről vagy elmozdulási sűrűségéről. Ezenkívül megvizsgálható az anyag feszültsége vagy textúrája. A röntgen direktometria különösen fontos a vékony rétegek vizsgálatakor és a vékony rétegű rendszerek rétegvastagságainak meghatározásakor. Tartalom 1 Motiváció 1 2 Alapok 2 2.1 Miller mutatói. 2 2.2 A sugárzás kölcsönhatása az anyaggal. 2 2.3 Dicsekvés. 3 3 Mérőeszköz 3 3.1 Röntgencső. 3 3.2 Sugárút. 4 3.3 Detektor. 4 3.4 Goniométer. 5 4 Fáziselemzés 6 5 A diffrakciós csúcsok intenzitása 7 6 Dislokációk 7 6.1 Lépés diszlokáció. 8 6.2 Csavarok elmozdulása. 8 6.3 Hintagörbe. 8 7 Vékony rétegeken végzett vizsgálatok 9 7.1 GIXRD. 9 7,2 XRR. 10 8 Források felsorolása 10 1