Elektrokémiai mikroszkópia A SECM mérnöki technikák főbb alkalmazásai; tagadó

Szerző (k): Fethi BEDIOUI, Sophie GRIVEAU, Alain PAILLERET *

Megjelenés dátuma: 2009. június 10

Ez a cikk az ajánlat része

Ez az ajánlat hozzáférést biztosít a következőkhöz:

Az ellenőrzött cikkek teljes és frissített adatbázisa tudományos bizottságok

Kérdések a szakértői szolgálathoz és gyakorlati eszközök

Interaktív vetélkedők a megértés érvényesítésére és a tudás rögzítésére

Az ajánlat tartalmazza

3. A SECM főbb alkalmazásai

Lehetséges a minta háromdimenziós leképezése SECM-mel. Ehhez az amperometrikus szondát oldalirányban mozgatjuk a síkban (x, y ), és az áramváltozásokat a minta fölötti helyzet függvényében mérjük. Ez az üzemmód megfelel az „állandó magasság” módnak. Az összegyűjtött információt ezután háromdimenziós képpé, a tengelyré alakítják z az aktuális 3D-s képnek énT és x és y a pontok koordinátái. Amikor a felület egyenletes elektrokémiai reakcióképességet mutat, az áram megváltozik én A T a szonda helyzetének függvényében közvetlenül kapcsolódik a minta és az UME közötti elválasztás változásához, amikor az utóbbi áthalad a felületen: a felületi topográfia tehát meglehetősen egyszerűen leképezhető, és a mért áramok skálává alakíthatók magasság (vagy távolság).